Żenkiewicz M., Moraczewski K., Rytlewski P.: Polimery 2011, 56, 34.
[2] Rytlewski P., Żenkiewicz M., Tracz A., Moraczewski K., Mróz W.: Surf. Coat. Tech. 2011, 205, 5248,
Crossref.
[3] Siau S., Vervaet A., Schacht E., Demeter U., Van Calster A.: Thin Solid Films 2006, 495, 348,
Crossref.
[4] Charbonnier M., Romand M., Harry E., Alami M.: J. Appl. Electrochem. 2001, 31, 57,
Crossref.
[5] Żenkiewicz M., Moraczewski K., Richert J., Stepczyńska M.: Przem. Chem. 2012, 91, 1000.
[6] Charbonnier M., Alami M., Romand M.: J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 472,
Crossref.
[7] NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database 20, Version 3.5,
Crossref.
[8] Żenkiewicz M.: „Adhezja i modyfikowaniewarstwy wierzchniej tworzyw wielkocz¹steczkowych”, WNT, Warszawa 2000.
[9] Praca zbiorowa: „High resolution XPS of organic polymers. The Scienta ESCA 300 Database” (red. Beamson D., Briggs D.), Wiley, Chichester 1992.
Remove [1] Żenkiewicz M., Moraczewski K., Rytlewski P.: Polimery 2011, 56, 34.
[2] Rytlewski P., Żenkiewicz M., Tracz A., Moraczewski K., Mróz W.: Surf. Coat. Tech. 2011, 205, 5248,
Crossref.
[3] Siau S., Vervaet A., Schacht E., Demeter U., Van Calster A.: Thin Solid Films 2006, 495, 348,
Crossref.
[4] Charbonnier M., Romand M., Harry E., Alami M.: J. Appl. Electrochem. 2001, 31, 57,
Crossref.
[5] Żenkiewicz M., Moraczewski K., Richert J., Stepczyńska M.: Przem. Chem. 2012, 91, 1000.
[6] Charbonnier M., Alami M., Romand M.: J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 472,
Crossref.
[7] NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database 20, Version 3.5,
Crossref.
[8] Żenkiewicz M.: „Adhezja i modyfikowaniewarstwy wierzchniej tworzyw wielkocz¹steczkowych”, WNT, Warszawa 2000.
[9] Praca zbiorowa: „High resolution XPS of organic polymers. The Scienta ESCA 300 Database” (red. Beamson D., Briggs D.), Wiley, Chichester 1992.
Google Scholar